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会议论文 一种用于LVDS的高速低功耗8位并串转换器
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:本文基于1.8V 0.18μm CMOS标准工艺设计了一种应用于LVDS(Low Voltage Differential Signaling)的高速低功... 显示全部
关键词: 集成电路 并串转换器 芯片设计 芯片功耗
会议论文 中带电压法分离MOSFET氧化层陷阱电荷与界面态电荷
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:本文讨论了MOSFET氧化层陷阱电荷和界面态电荷分离的几种方法,重点介绍了其中的中带电压法,并指出应用中带... 显示全部
关键词: 微电子学 陷阱电荷 电荷分离 集成电路
会议论文 LDMOS全耗尽漂移区的电流计算方法
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:本文提出了一个基于表面势的耗尽层电流计算新方法,由于LDMOS结构的特殊性,其漂移区电流受到源漏栅电势的... 显示全部
关键词: 集成电路 芯片设计 漂移区电流 源漏栅电势
会议论文 集成电路中金属互连线焦耳热效应的测试和分析
出处:2003第十届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:本文采用拟合的方法,并利用DESTIN测试系统,研究了集成电路金属布线电阻与温度的关系,探讨不同材料、不同尺... 显示全部
关键词: 失效分析 中值寿命 集成电路 焦耳热效应 测试系统
会议论文 MEMS及微机械加速度计可靠性研究
出处:2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:由于MEMS器件的应用日益频繁,MEMS可靠性研究就显得十分重要.本文介绍了引起可靠性问题的方面,以微机械加速... 显示全部
关键词: 微系统技术 集成电路 可靠性分析
会议论文 统计技术在集成电路生产中应用
出处:第十二届全国半导体集成电路硅材料学术会议
摘要:本文扼要介绍统计过程控制在集成电路生产中应用,对理论的经验和控制图做了比较,详细介绍了层别法和散布图... 显示全部
关键词: 集成电路 生产工艺 统计技术 控制图
会议论文 电子微组装技术的可靠性研究新进展
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:电子微组装技术(MPT)被称为第五代组装技术,是基于微电子技术特别是集成电路技术和计算机辅助系统发展起来... 显示全部
关键词: 集成电路 芯片贴装 微组装技术 电路可靠性
会议论文 质子SEU率计算模型及其对比
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:本文首先介绍了计算质子单粒子翻转(SEU)率的三种模型——优质因素(FOM)模型、J.Barak的模型和Philippe Cal... 显示全部
关键词: 集成电路 芯片设计 单粒子翻转
会议论文 可制造设计及其在深亚微米阶段的挑战
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:本文主要对可制造设计起源、研究现状及器件进入深亚微米阶段及纳米阶段可制造设计所面临的挑战进行了详细... 显示全部
关键词: 集成电路 芯片设计 电路制造 可制造设计
会议论文 薄栅氧化层斜坡电压TDDB寿命评价
出处:中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
摘要:随着超大规模集成电路的不断发展,薄栅氧化层的质量对器件和电路可靠性的作用越来越重要.经时绝缘击穿(TDDB... 显示全部
关键词: 薄栅氧化物 击穿机理 斜坡电压法 寿命评价 集成电路 绝缘击穿 可靠性
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