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会议论文 MOS器件界面态与陷阱电荷分离方法研究
出处:2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:本文介绍了中带电压法、电荷泵法和双晶体管法等运用于MOS结构器件中分离由辐射效应引起的界面态电荷与氧化... 显示全部
关键词: 器件 元件测试 界面态 电荷分离
会议论文 新型B←N光电材料的H-/J-聚集形式对有机薄膜太阳能电池光电性质的影响
出处:中国化学会2017全国高分子学术论文报告会
摘要:有机薄膜太阳能电池的性能取决于单个分子的性质以及他们在固体状态下的分子取向。通过在二甲基芴-吡咯并吡... 显示全部
关键词: 有机薄膜太阳能 B←N 取向 聚集 器件
会议论文 MOS器件电离辐射总剂量退化的温度效应
出处:第十二届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:MOS器件辐射效应的一些基本物理过程,如电荷产生、空穴输运、俘获与退火以及界面陷阱增长与退火等,取决于辐... 显示全部
关键词: 器件 电离辐射 辐射效应 总剂量退化 温度效应
会议论文 MOS器件的X射线辐照效应
出处:中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
摘要:本文研究了在10KEV X射线辐照情况下MOS器件的阈值电压随总剂量和剂量率的改变而变化的趋势.实验结果表明,... 显示全部
关键词: 器件 射线 辐照效应 阈值电压 漂移幅度 场效应器件 可靠性
会议论文 MOSFET总剂量效应的Medici仿真研究
出处:2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:本文运用Medici二维器件仿真软件改进了仿真电离辐射总剂量效应的二维数值法,仿真模拟了NMOSFET在不同总剂... 显示全部
关键词: 器件 辐照效应 电离辐射 计算机仿真
会议论文 20-40GHZ宽频带PHEMT器件大信号建模
出处:2005全国微波毫米波会议
摘要:本文介绍了一种准确的PHEMT大信号建模方法,包括精确的Ⅰ-Ⅴ特性模型,和非线性电容模型.本文所需要的测试是... 显示全部
关键词: 宽频带 器件 大信号建模
会议论文 TH-E:MOS器件可靠性寿命综合模拟软件
出处:中国电子学会可靠性分会第十届学术年会
摘要:该文中描述了一种典型的MOSFET可靠性模拟软件,软件中不仅包括针对N型和P型MOSFET器件中热载流子效应、TDD... 显示全部
关键词: 器件 可靠性模拟 综合模拟 热载流子效应
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