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会议论文 倒置的InGaP/GaAs HBT与常规的InGaP/GaAs HBT器件性能比较分析
摘要:基于热场发射-扩散模型,研究两相同器件结构的常规和倒置InGaP/GaAs HBT器件的性能差异。结论表明:倒置InGa... 显示全部
关键词: [8569152]INGAP/GAAS 倒置HBT [1517937]直流特性 [7026910]高频特性
会议论文 SiGe HBT工艺结构及失效分析
出处:2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:本文介绍了 SiGe 异质结双极晶体管的特点及其失效机理,并讨论了 SiGe HBT 晶体管纵向及横向结构参数的设计... 显示全部
关键词: 异质结晶体管 加速寿命试验 可靠性 热载流子效应
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