中文会议： 2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会论文集

会议地点： 四川都江堰

出版方 ： 中国电子学会可靠性分会、中国电子学会电子元件分会、中国电子学会半导体与集成技术分会、中国电子学会电子材料分会、广东省电子学会

作　　者： ; ; (恩云飞）; (章晓文）; (姚若河）;

机构地区： 信息产业部电子第五研究所

出　　处： 《2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会》

摘　　要： 本文介绍了 SiGe 异质结双极晶体管的特点及其失效机理,并讨论了 SiGe HBT 晶体管纵向及横向结构参数的设计,并对加速寿命试验中发生失效的 SiGe HBT 进行失效分析．

关 键 词： 异质结晶体管 加速寿命试验 可靠性 热载流子效应

分 类 号： [TN322.8]

领　　域： [电子电信]