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会议论文 CMOS电路瞬态电流测试技术动态
出处:中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
摘要:CMOS集成电路瞬态电流(IDDT)测试技术自20世纪90年代提出以来,作为电压测试及静态电流(IDDQ)测试技术的必要... 显示全部
关键词: 电路 电流测试 瞬态电流
会议论文 低剂量率下双极晶体管的电离辐射效应
出处:中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
摘要:在辐照的剂量率范围内,无论是国产还是进口的双极晶体管,都有明显的低剂量率辐照损伤增强现象,且纵向NPN管... 显示全部
关键词: 低剂量率 电离辐射 双极晶体管 抗辐射加固
会议论文 MEMS封装技术及其可靠性
出处:中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
摘要:MEMS日益成为前沿的研究领域,而其可靠性研究因为种种原因显得相对滞后.本文就MEMS封装可靠性问题进行了介... 显示全部
关键词: 封装技术 可靠性
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