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会议论文 SiGe HBT工艺结构及失效分析
出处:2007’第十二届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:本文介绍了 SiGe 异质结双极晶体管的特点及其失效机理,并讨论了 SiGe HBT 晶体管纵向及横向结构参数的设计... 显示全部
关键词: 异质结晶体管 加速寿命试验 可靠性 热载流子效应
会议论文 TH-E:MOS器件可靠性寿命综合模拟软件
出处:中国电子学会可靠性分会第十届学术年会
摘要:该文中描述了一种典型的MOSFET可靠性模拟软件,软件中不仅包括针对N型和P型MOSFET器件中热载流子效应、TDD... 显示全部
关键词: 器件 可靠性模拟 综合模拟 热载流子效应
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