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会议论文 一种基于TSP问题的扫描链阻塞技术低费用测试方法
出处:第十三届全国容错计算学术会议
摘要:在扫描链阻塞技术中,在扫描测试的任意时刻仅有一个子扫描链活跃,电路的平均功耗,总功耗和峰值功耗都显... 显示全部
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