中文会议： 第十三届全国容错计算学术会议论文集

会议日期： 2009-07-20

会议地点： 海拉尔

主办单位： 中国计算机学会

作　　者： ; ; ; ;

机构地区： 湖南大学信息科学与工程学院软件学院

出　　处： 《第十三届全国容错计算学术会议》

摘　　要： 在扫描链阻塞技术中，在扫描测试的任意时刻仅有一个子扫描链活跃，电路的平均功耗，总功耗和峰值功耗都显著降低．但对有些电路，此方法的测试应用时间增加．经过初步研究，我们发现如果充分利用测试向量之间的相容性能显著的降低测试应用时间，求最小的测试应用时间问题等价于TSP问题．实验结果表明，我们的方法能有效地降低测试应用时间，

分 类 号： [TP3 TN4]

领　　域： [自动化与计算机技术] [电子电信]