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会议论文 一种集成芯片引脚外观检测系统的研究
出处:第三次全国会员代表大会暨学术会议
摘要:大尺寸集成芯片引脚外观检测一直是电子集成电路器件生产线上的一个重要环节,目前尚无较成熟的自动检测设备... 显示全部
关键词: 集成芯片引脚 光电检测 亚像素
会议论文 用样条插值算法实现集成块引脚的高精度检测
出处:第三次全国会员代表大会暨学术会议
摘要:灰度图像边缘检测的精度受到CCD摄像机的采样频率的限制,且CCD为一衍射受限系统,灰度图像的边缘变得模糊。... 显示全部
关键词: 样条插值法 集成块引脚 亚像素 最小二乘法
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