聚类工具

0
帮助 本站公告
您现在所在的位置:网站首页 > 知识中心 > 检索结果
排序:
会议论文 一种集成芯片引脚外观检测系统的研究
出处:第三次全国会员代表大会暨学术会议
摘要:大尺寸集成芯片引脚外观检测一直是电子集成电路器件生产线上的一个重要环节,目前尚无较成熟的自动检测设备... 显示全部
关键词: 集成芯片引脚 光电检测 亚像素
找到1条结果
`