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会议论文 基于芯片的SERS检测技术
出处:第十九届全国光散射学术会议
摘要:<正>SERS技术出现在20世纪70年代,衍生于纳米技术,而今因为其高灵敏度、无损检测和原位测量等优点,被广泛应... 显示全部
关键词: [8748057]表面增强拉曼 芯片基底 三明治结构 超灵敏检测
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