中文会议：
第十九届全国光散射学术会议摘要集
会议日期：
2017-12-01
会议地点：
中国广东广州
主办单位：
中国物理学会光散射专业委员会
出版日期：
2017-12-01
作 者：
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机构地区：
深圳大学
出 处：
《第十九届全国光散射学术会议》
摘 要：
<正>SERS技术出现在20世纪70年代,衍生于纳米技术,而今因为其高灵敏度、无损检测和原位测量等优点,被广泛应用于食品安全检测、医药诊断、材料的表征、考古、刑侦等各个领域[1,2]。目前普遍应用
关 键 词：
表面增强拉曼
芯片基底
三明治结构
超灵敏检测
领 域：
[]
