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会议论文 ESD应力下多指条MOS器件的栅过耦合效应及对策
出处:中国电子学会第十四届青年学术年会
摘要:ESD保护电路中经常使用栅耦合技术来解决多指条MOS器件ESD应力下非均匀导通的问题,但耦合到栅端的电压有时... 显示全部
关键词: 场效应器件 栅耦合技术 耦合效应 静电释放
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