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会议论文 电子封装元件断层图像的最小二乘拟合三维可视化算法
出处:2012中国高端SMT学术会议
摘要:随着电子封装技术的发展,电子元器件集成度越来越高,对内部缺陷的检测需求也逐渐增加,而传统方法很难实... 显示全部
关键词: 电子封装 三维可视化 断层图像 重建 三维显示
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