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会议论文 基于神经网络的电路多故障测试及并行实现
出处:中国仪器仪表学会第四届青年学术会议
摘要:对数字电路的多故障测试生成,首先构造被测电路的约束电路结构,并建立测试生成的神经网络模型,然后采用遗传... 显示全部
关键词: 数字电路 神经网络 并行算法 多故障 故障测试
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