中文会议： 仪器仪表学报/2002.3增刊(上,下册)

会议日期： 2002-09-01

会议地点： 北京

主办单位： 中国仪器仪表学会

作　　者： ; ;

机构地区： 华南师范大学物理与电信工程学院物理系

出　　处： 《中国仪器仪表学会第四届青年学术会议》

摘　　要： 对数字电路的多故障测试生成,首先构造被测电路的约束电路结构,并建立测试生成的神经网络模型,然后采用遗传进化算法计算约束电路对应神经网络能量函数的最小值点而获得给定多故障的测试矢量,该方法具有易于实现和有良好的内在并行性等特点.同时给出了算法的并行实现方案.

关 键 词： 数字电路 神经网络 并行算法 多故障 故障测试

分 类 号： [TP]

领　　域： [自动化与计算机技术]