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会议论文 MOS器件电离辐射总剂量退化的温度效应
出处:第十二届全国可靠性物理学术讨论会
摘要:MOS器件辐射效应的一些基本物理过程,如电荷产生、空穴输运、俘获与退火以及界面陷阱增长与退火等,取决于辐... 显示全部
关键词: 器件 电离辐射 辐射效应 总剂量退化 温度效应
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