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会议论文 BIST技术及其在Memory中的应用
出处:首届信息的获取与处理学术会议
摘要:阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。 显示全部
关键词: 内建自检测 线性反馈移位寄存器 特征分析
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