中文会议： 首届信息获取与处理学术会议论文集

出版方 ： 中国仪器仪表学会

作　　者： ; ; ; ;

机构地区： 中国科学院沈阳自动化研究所

出　　处： 《首届信息的获取与处理学术会议》

摘　　要： 阐述内建自检测(BIST)技术的特点、结构和原理,并介绍其在Memory单元电路中的实现过程。

关 键 词： 内建自检测 线性反馈移位寄存器 特征分析

分 类 号： [TN407]

领　　域： [电子电信]