聚类工具

0
帮助 本站公告
您现在所在的位置:网站首页 > 知识中心 > 检索结果
排序:
期刊文章 深亚微米体硅器件电离辐射及退火与温度的相关性研究
出处:电子质量 2011年第3期 18-20,共3页
摘要:对经过Co60不同剂量剂量率辐照的体硅MOS器件(NMOSFET与PMOSFET)分别进行了室温和高温下的退火实验,并对... 显示全部
关键词: 温度 退火效应 总剂量效应 电离辐射
在线阅读 下载全文
找到1条结果
`