聚类工具

0
帮助 本站公告
您现在所在的位置:网站首页 > 知识中心 > 检索结果
排序:
期刊文章 芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析
出处:系统工程理论与实践 2011年第8期1593-1599,共7页
摘要:芯片测试系统中,由于检测设备的不稳定性、产品价值昂贵等原因,产品检测过程中出现质量问题后经过一定调整... 显示全部
关键词: 芯片测试 质量重入性 随机系统
在线阅读 下载全文
找到1条结果
`