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期刊文章 NMOS阱内外碰撞SEU特性的仿真分析
出处:山东科技大学学报:自然科学版 2011年第4期 95-98,104,共5页
摘要:通过二维器件模拟软件MEDICI对小尺寸硅SRAM单元SEU特性进行了分析。在阱内外碰撞时,当耦合电阻,NMOS阱深等... 显示全部
关键词: 单粒子翻转 线能量传输 耦合电阻 阱内碰撞 阱外碰撞
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