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期刊文章 汝瓷成分的线扫描分析
出处:核技术 2002年第10期 853-858,共6页
摘要:用SRXRF技术对汝瓷断面从釉到胎进行了十一种元素含量的线扫描分析,结果表明:在汝瓷胎、釉之间的确存在一个... 显示全部
关键词: 汝瓷 线扫描分析 中间层 考古 陶瓷 成分分析 汝窑 同步辐射 射线荧光分析
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