聚类工具

0
帮助 本站公告
您现在所在的位置:网站首页 > 知识中心 > 检索结果
排序:
期刊文章 晶片键合质量的红外检测系统设计
出处:半导体技术 2006年第11期 819-822,827,共5页
摘要:基于晶片的红外透射原理,设计并搭建了晶片直接键合质量红外检测装置,并利用图像处理技术开发了相应的软... 显示全部
关键词: 键合质量 红外检测 图像法 晶片键合
在线阅读 下载全文
找到1条结果
`