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期刊文章 发光多孔硅的X射线光电子能谱深度剖析
出处:物理学报 1995年第1期 57-63,共7页
摘要:用X射线光电子能谱测量了经电解腐蚀后硅片表面的发光物质,发现发光膜中与发光有关的物质为硅氧化合物,... 显示全部
关键词: 发光多孔硅 射线 光电子能谱 深度剖析
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