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期刊文章 从光电子峰的背景信号获得成分深度分布信息:Tougaard背景拟合方法
出处:真空科学与技术 2002年第6期 454-458,共5页
摘要:光电子谱中的背景信号包含样品的信息,但过去往往被忽略.实际上通过分析背景信号,可以获得成分随深度分布等... 显示全部
关键词: 光电子峰 深度分布 背景拟合方法 光电子谱 背景拟合 信号分析 材料 表面分析
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