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期刊文章 检测片状电阻器镀层厚度的金相制样法
出处:理化检验:物理分册 2003年第6期 321-323,共3页
摘要:片状电阻器是由陶瓷材料和金属镀层构成,因不同型号的片状电阻器仅2mm×0.5mm和2mm×1mm,镀层仅0.5mm×0.5m... 显示全部
关键词: 片状电阻器 镀层厚度 陶瓷材料 金相制样法 硬度 金相分析
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