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期刊文章 MNOS结构界面陷阱分布的TSC谱研究
出处:半导体学报 1991年第12期 728-736,共9页
摘要:本文应用热激电流(TSC)方法研究了MNOS结构中界面陷阱随能量和空间分布的情况.在Wei-Simmons模型的基础上... 显示全部
关键词: 化合物半导体 结构 热激电流谱
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