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期刊文章 不同窑口古瓷断面能量色散X射线荧光光谱线扫描分析
出处:岩矿测试 2007年第5期 381-384,共4页
摘要:利用能量色散X射线线扫描分析技术,同时借助体视显微镜、偏光显微镜等分析手段,对我国古代邢窑、巩窑和宜... 显示全部
关键词: 化妆土 中间层 析晶层 线扫描
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