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期刊文章 X射线荧光光谱法同时测定电子电气产品中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴
出处:光谱学与光谱分析 2006年第12期 2350-2353,共4页
摘要:提出了用X射线荧光光谱法同时测定电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法。研究... 显示全部
关键词: 射线荧光光谱 有毒有害元素 电子电气产品
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