摘要：以C60晶体中分子两种取向排列形成的双能级系统为基础,通过探讨C60晶体在有序相的热力学性质,得到了38o和98...以C60晶体中分子两种取向排列形成的双能级系统为基础,通过探讨C60晶体在有序相的热力学性质,得到了38o和98o两种取向排列的分子在晶体中均匀分布的结构稳定性结论.根据已报道的C60晶体在有序相两端点温度85 K 和260 K取向分布的实验结果,将较高的分子取向(38o)能级的概率转化成分数值1/6和3/8,得到了有序相两种取向分子在两温度端点的分布规律.当概率的分数值为1/4和1/3时,C60晶体将具有较大的结构稳定性和较小的介电损耗及内耗值,对应的温度分别为122.6和194.3 K.因而解释了介电实验结果出现异常的现象是由38o取向分子均匀分布的'规则-无规-规则'变化所造成的.显示全部
