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期刊文章 基于SRAM结构的FPGA抗辐射布局算法
出处:计算机工程 2012年第5期 236-239,共4页
摘要:分析由辐射造成的单粒子翻转(SEU)软错误,在通用布局布线工具的基础上,提出一种基于SRAM结构的现场可编程... 显示全部
关键词: 现场可编程门阵列 抗辐射 布局算法 计算机辅助设计 单粒子翻转 软错误
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期刊文章 一种FPGA抗辐射工艺映射方法研究
出处:电子学报 2011年第11期 2507-2512,共6页
摘要:提出一种基于部分TMR和逻辑门掩盖的FPGA抗辐射工艺映射算法FDRMap,以及一个基于蒙特卡洛仿真的并行错误注... 显示全部
关键词: 现场可编程门阵列 工艺映射 抗辐射 错误仿真 单粒子翻转
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