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期刊文章 实际应用条件下Power MOSFET开关特性研究(下)
出处:现代电子技术 2008年第5期 145-148,151,共5页
摘要:从功率MOSFET内部结构和极间电容的电压依赖关系出发,对功率MOSFET的开关现象及其原因进行了较深入分析。... 显示全部
关键词: 功率 开关现象 开关特性 密勒效应 开关损耗
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