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期刊文章 从光电子谱的峰背比及背景信号变化获得成分深度分布信息
出处:材料科学与工程 2002年第4期 478-481,共4页
摘要:光电子谱中的背景信号包含样品的信息,但过去往往被忽略.通过对背景信号简单的分析,可以获得成分随深度变化... 显示全部
关键词: 峰背比 光电子谱 背景信号 深度剖析 材料 表面分析
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