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期刊文章 基于40nm超大规模SoC芯片存储器测试电路设计与实现
出处:电子器件 2017年第4期813-818,共6页
摘要:针对超大规模SoC(System on Chip)芯片中存储器的测试需求,首先分析存储器测试中存在的主要问题,包括新故... 显示全部
关键词: 可测性设计 存储器测试 内建自测试 故障模型 测试算法
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期刊文章 K故障诊断可测性的公树条件
出处:电路与系统学报 1996年第1期 89-97,共9页
摘要:模拟电路K故障诊断有两种方法:超定偏差方程相窖性判断法和双线性求值判断法。本文从拓朴上论述了使用这两... 显示全部
关键词: 可测性设计 模拟电路 判断法 例子 角度 局部 计时 拓朴 双线性 故障诊断
期刊文章 系统芯片的可测性设计
出处:数字技术与应用 2010年第4期 9-11,共3页
摘要:系统芯片SoC可以实现一个系统的功能,为了保证系统芯片的功能正确性与可靠性,在它的设计与制造的多个阶段... 显示全部
关键词: 系统芯片 可测性设计 测试方法 测试存取机制
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期刊文章 一种基于BFT型拓扑结构片上网络低费用测试方法
出处:电子学报 2011年第11期 2663-2669,共7页
摘要:随着集成电路制作工艺的进步,多核与众核系统是片上系统的发展趋势.传统的二维网格(2D-mesh)型拓扑结构通... 显示全部
关键词: 可测性设计 片上系统 片上网络 组播测试 低费用测试
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期刊文章 ASIC设计技术及其发展研究
出处:中国集成电路 2006年第10期 15-20,42,共7页
摘要:对ASIC设计的工作流程和相关工具软件进行了简要介绍,并概括了ASIC设计的发展过程和较新趋势,以促进大家对... 显示全部
关键词: 设计 设计成本 深亚微米工艺 时钟树 发展研究 时序仿真 设计输入 可测性设计 硬件描述语言
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