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期刊文章 X荧光测量在智利SB矿点和物化探异常检查中的应用
出处:矿产勘查 2011年第6期 800-806,共7页
摘要:介绍新一代X射线荧光分析仪(XRF)在野外现场矿产勘查中的应用效果。讨论了XRF中的原理及元素精准度、不平... 显示全部
关键词: 射线荧光分析仪 化探异常 异常评价 智利
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