帮助 本站公告
您现在所在的位置:网站首页 > 知识中心 > 文献详情
文献详细Journal detailed

薄膜厚度对四面体非晶碳薄膜结构和性能的影响

中文会议: 粤港澳大湾区真空科技与宽禁带半导体应用高峰论坛暨2017年广东省真空学会学术年会论文集

会议日期: 2017-12-28

会议地点: 中国广东惠州

主办单位: 广东省科学技术协会

出版日期: 2017-12-28

作  者: ();

机构地区: 广东工业大学材料与能源学院

出  处: 《粤港澳大湾区真空科技与宽禁带半导体应用高峰论坛暨2017年广东省真空学会学术年会》

摘  要: 四面体非晶碳(ta-C)薄膜具有高硬度和弹性模量、优异的耐磨性和抗蚀性、高热导率和电阻率以及良好的化学惰性等优异性质,己成为刀具用硬质合金表面的理想涂层材料。本文采用多弧离子镀技术在P(100)单晶抛光硅衬底和YG6硬质合金上制备ta-C薄膜,研究沉积时间(19、27、35、47min)对ta-C薄膜结构和性能的影响。利用表面轮廓仪对薄膜粗糙度进行测量,利用扫描电镜对薄膜表面、截面形貌进行表征及对

关 键 词: 四面体非晶碳 多弧离子镀 硬质合金

领  域: []

相关作者

相关机构对象

相关领域作者