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半固化片中残留硅烷偶联剂的含量测试方法研究

中文会议: 第十八届中国覆铜板技术·市场研讨会论文集

会议日期: 2017-11-09

会议地点: 中国广东东莞

主办单位: 中国电子材料行业协会覆铜板材料分会;中国电子电路行业协会基板材料分会;国家电子电路基材工程技术研究中心

出版日期: 2017-11-09

作  者: ;

机构地区: 广东生益科技股份有限公司

出  处: 《第十八届中国覆铜板技术·市场研讨会》

摘  要: 在覆铜板的生产过程中,硅烷偶联剂是常用的助剂,它在配方中的含量直接影响树脂的交联固化程度,进而影响板材的各项性能。本文采用气相色谱法(GC)测定半固化片中的残留硅烷偶联剂含量,为生产过程中配方和工艺参数的调整提供数据支持。采用的色谱条件为:HP-INNOWAX交联聚乙二醇极性毛细管色谱柱(30 m×0.250 mm×0.25μm)(美国Agilent公司);载气:氮气(99.99%);氢气(99.

关 键 词: 覆铜板 半固化片 硅烷偶联剂 气相色谱

领  域: []

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作者 陈俊智
作者 周文敏

相关机构对象

机构 华南理工大学
机构 暨南大学

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