中文会议: 2017年全国天线年会论文集(上册)
会议日期: 2017-10-16
会议地点: 中国陕西西安
主办单位: 中国电子学会
出版方 : 西安电子科技大学出版社
出版日期: 2017-08-31
作 者: ();
机构地区: 华南理工大学电子与信息学院
出 处: 《2017年全国天线年会》
摘 要: 插入损耗是在测量中是一个重要的参量。本文在TRL校准原理的基础上,提出一种通过测量Thru-line和L-line的S参数,并能准确测量传输线的插入损耗测量方法。本文对该方法进行了分析和验证。
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