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嵌入式系统与现代计量测试
Embedded System and Modern Measurement

作  者: (吴志群); (王舒卉); (丁鼎); (张红); (肖天雷);

机构地区: 上海市计量测试技术研究院,上海201203

出  处: 《中国仪器仪表》 2017年第8期45-47,共3页

摘  要: 嵌入式系统是计算机技术、半导体技术、微电子技术与各行各业的具体应用定制后相结合的产物,现代计量的发展离不开嵌入式系统的协助。本文介绍了嵌入式仪表在计量测试的各个应用领域,列举了相关支持政策,并且提出了与嵌入式系统相结合的计量技术的未来发展方向和重点。 Embedded system is the product from the combination of computer science, semiconductor technology, microelectronics technology and the customized applications. The development of modern measurement cannot be separated from the help of embedded system. This paper introduces examples that embedded instruments applied in measurement, and lists the relevant support policies, while also proposes the future development orientation of the combination of embedded system and measurement.

关 键 词: 计量测试 仪器 嵌入式系统 发展

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