中文会议： 高精度几何量光电测量与校准技术研讨会论文集

会议地点： 中国陕西西安

出版方 ： 中国宇航学会光电技术专业委员会

作　　者： ; ; ; ; ; ;

机构地区： 深圳大学光电工程学院

出　　处： 《高精度几何量光电测量与校准技术研讨会》

摘　　要： 对应点搜索的精度是保证基于条纹投影的三维测量系统性能的关键因素之一,它直接影响到后期深度测量数据的匹配及融合的精度。目前基于相位相关技术的亚像素查找技术能够保证精度,但前期双方向条纹采集时间过长;而基于单方向条纹相位插值算法的对应点搜索未考虑镜头畸变,模型简单化造成精度下降。在透镜畸变模型下提出以绝对相位和极线参数作为两方向坐标,并结合相位线性插值算法的亚像素对应点搜索方法。理论分析和实验结果证明

关 键 词： 亚像素匹配 绝对相位 镜头畸变 线性插值

分 类 号： [TP391.41]

领　　域： [自动化与计算机技术] [自动化与计算机技术]