中文会议： 高精度几何量光电测量与校准技术研讨会论文集

会议地点： 中国陕西西安

出版方 ： 中国宇航学会光电技术专业委员会

作　　者： ; ; ; ;

机构地区： 深圳大学光电工程学院

出　　处： 《高精度几何量光电测量与校准技术研讨会》

摘　　要： 标志点定位是三维形貌测量的关键技术之一,其精度在很大程度上决定着系统的测量精度。其中,圆形标志点以其定位精度高、易于识别的优点得到了广泛的应用。结合Canny边缘检测、目标识别、亚像素边缘检测等技术,提出了一种可用于对复杂背景下的圆形标志点进行亚像素定位的方法。仿真实验证明该方法可以保证0.02像素的定位精度。随后,给出了一种利用圆形标志点进行深度像匹配的实例。

关 键 词： 标志点 亚像素 深度像匹配 三维形貌测量

分 类 号： [TP391.41]

领　　域： [自动化与计算机技术] [自动化与计算机技术]