中文会议： 第七届中国测试学术会议论文集

会议日期： 2012-06-23

会议地点： 杭州

主办单位： 中国计算机学会

作　　者： ; ; ; ; ; ;

机构地区： 合肥工业大学计算机与信息学院

出　　处： 《第七届中国测试学术会议》

摘　　要： 　　三维芯片由于其高性能和低功耗越来越受到人们的欢迎.SOC技术是把一个完整的系统集成到单个(或少数几个)芯片上，从而实现整个系统功能复杂的集成电路.以细粒度划分的3D SOC实现了真正意义上的3D芯核.它降低了单个芯核内的局部和全局互连线的长度，在功耗和性能方面会有很大的改进.但是随着划分层数的不同，测试开销也会发生变化.本文基于扫描链平衡提出考虑测试时间和测试存储的测试开销函数，以便找到最优的划分层数.

关 键 词： 划分层数 扫描链平衡 测试开销

领　　域： [文化科学]