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薄膜厚度对LIMN2O4薄膜性质的影响

中文会议: 第六届中国功能材料及其应用学术会议论文集

会议日期: 2007-11-15

会议地点: 武汉

主办单位: 中国仪器仪表学会,中国物理学会,中国光学学会

作  者: ; ; ; ; ;

机构地区: 吉首大学化学化工学院

出  处: 《第六届中国功能材料及其应用学术会议》

摘  要: 采用溶液沉积法制备不同厚度的LIMN2O4薄膜,用X射线衍射及扫描电子显微镜检测和分析薄膜的物相及形貌;采用恒电流充放电及交流阻抗技术研究LIMN2O4薄膜的电化学性质.结果表明不同厚度的LIMN2O4薄膜均匀,晶粒大小相近,晶粒尺寸在20~50NM之间。当放电电流密度为100μA/CM2时,不同厚度的LIMN2O4薄膜比容量相差不大,其值在42~47μAH/(CM2·μM)之间。薄膜循环性能随着薄膜厚度的增加而变差.经50次循环后,薄膜每次循环的容量损失从0.18μM的0.012%升高到1.04μM的0.16%。电化学阻抗表明不同厚度的LIMN2O4薄膜的锂离子扩散系数差别不大,数量级为10-11CM2/S.

关 键 词: 锂离子 薄膜 扩散 电化学阻抗 溶液沉积法

领  域: [一般工业技术]

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