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氧含量对RF磁控溅射ZNO薄膜结构特性的影响

中文会议: 第十四届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议

会议日期: 2006-11-01

会议地点: 广西北海

主办单位: 中国电子学会

作  者: ; ; ; ; ; ;

机构地区: 深圳大学材料学院

出  处: 《第十四届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议》

摘  要: 本文采用射频(RF)磁控溅射的方法,通过改变工作气氛中氩气和氧气的比例,在SI(100)衬底上沉积出具有高度C轴择优取向的ZNO薄膜.实验发现随着O2/AR+O2比的增加,薄膜的沉积速率下降.O2/AR+O2比对薄膜结晶状态有明显影响,O2/(AR+O2)比约为0.45,薄膜结晶质量较好.

关 键 词: 薄膜 射频磁控溅射 分析 氧含量 射频

领  域: [一般工业技术]

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