中文会议： 红外与激光工程

会议日期： 2006-11-03

会议地点： 成都

主办单位： 中国宇航学会,中国航空学会,中国光学学会,中国兵工学会,中国电子学会

作　　者： ; ; ;

机构地区： 华南师范大学物理与电信工程学院

出　　处： 《二〇〇六年全国光电技术学术交流会》

摘　　要： 斯托克斯参量可全面描述光束的偏振态,本文分析了偏振光的斯托克斯参量的意义及其测量方法.通过测量纳米级薄膜样品的入射和反射偏振光的斯托克斯参量,求得椭偏参量ψ和△,然后求得薄膜样品的厚度和折射率.实验表明,该方法适用于任何偏振态的入射和反射偏振光,测量系统构建较容易,测量结果与目前常用的椭偏消光法接近.

关 键 词： 斯托克斯参量 椭偏参量 薄膜测量

分 类 号： [T]

领　　域： [一般工业技术]