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文献详细Journal detailed

宽禁带MGZZN1-ZO薄膜的制备和性能研究

中文会议: 第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议论文集

会议日期: 2008-11-30

会议地点: 广州

主办单位: 中国电子学会,广州市科协

作  者: ; ; ; ; ; ;

机构地区: 深圳大学材料学院深圳市特种功能材料重点实验室

出  处: 《第十五届全国化合物半导体材料、微波器件和光电器件学术会议》

摘  要: 采用磁控溅射法、通过ZNO陶瓷靶和MG金属靶在石英衬底上制备了MGXZN1-XO薄膜。研究了MG原子含量对MGXZN1-XO薄膜结构和光学性能的影响。XRD测试结果表明:MGXZN1-XO薄膜在(0002)方向有明显的C轴择优取向;随着MG原子含量的提高,薄膜由六角单相转化为六角相和立方相的混合相:MGXZN1-XO合金薄膜的透射谱表明:随着MG原子含量的增加,薄膜的透射率略有下降,但在可见光区域的平均透射率仍大于85%;随着MG原子含量的增加,吸收边逐渐蓝移,最短的吸收边为283NM。能隙宽度图表明:随着MG原子含量的提高,MGXZN1-XO薄膜的能隙宽度从3.36 EV增加到4.27 EV。

关 键 词: 射线衍射 透射光谱 磁控溅射法 光学性能 薄膜结构 能隙宽度

分 类 号: [T]

领  域: [一般工业技术]

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作者 郭扬铭

相关机构对象

机构 中山大学物理科学与工程技术学院物理系

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