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一种基于线阵CCD的轴类零件尺寸检测方法

中文会议: 光电子技术与信息/2003.8增刊

会议日期: 2003-08-01

会议地点: 长沙

主办单位: 中国光学学会

作  者: ; ;

机构地区: 广东工业大学信息工程学院

出  处: 《第十届全国光电技术与系统学术会议》

摘  要: 本论文基于线阵CCD的二维图象检测的特点,提出采用数字同步技术,消除被测物体运动速度变化对检测分辨率和精度的影响,有效提高检测精度和检测速度;提出采用图象边缘自动跟踪方法,自动获取边缘参数,实现被测物体的二维多尺寸自动定位检测.

关 键 词: 线阵 尺寸检测 数字同步 自动定位检测 轴类零件

领  域: [理学] [一般工业技术]

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