中文会议: 2010国防计量与测试学术交流会论文集
会议日期: 2010-09-01
会议地点: 武汉
主办单位: 中国宇航学会
机构地区: 中国原子能科学研究院
出 处: 《2010国防计量与测试学术交流会》
摘 要: 本文介绍了正电子发射核素22NA活度测量方法。22NA衰变方式包括89.89%的β+衰变和10.11%的EC衰变。衰变子体22NE发射的特性X射线和俄歇电子能量均在1 KEV以下,由于源的自吸收,即使做成VYNS薄膜源也难以被正比计数器探测到;另外由于湮灭光子的存在。符合相加效应造成了1274.5 KEV峰计数率的损失。这两个因素在很大程度上影响活度测量的准确性.实验分别采用β效率外推法和在正比计数器与NAI探测器之间加铅吸收片从而改变γ效率外推的方法进行测量。β效率外推时使用1786KEV叠加峰作为γ窗口,需要进行β+分支比修正;第二种方法保持β效率固定,将符合相加峰的探测效率外推到0,就可以准确得到源的活度。两种方法测量结果的不确定度分别为0.8%和1.0%(K=2)。