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高端CT技术的性能比较与分析

中文会议: 中华医学会医学工程学分会第十一次学术年会暨2010中华临床医学工程及医疗信息化大会论文集

会议日期: 2010-09-09

会议地点: 上海

主办单位: 中华医学会

作  者: ; ; ;

机构地区: 青岛大学医学院附属医院

出  处: 《中华医学会医学工程学分会第十一次学术年会暨2010中华临床医学工程及医疗信息化大会》

摘  要: 本文综述了各高端CT(如双源CT、BRILLIANCE ICT、320排CT、宝石CT)的核心技术,并分别对探测器技术、低剂量控制和后处理技术进行了性能比较与分析,最后给出了各高端CT的优势与不足。

关 键 词: 高端 探测器 低剂量 后处理技术

分 类 号: [U41 TM6]

领  域: [交通运输工程] [电气工程]

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